課程大綱： 統計過程控制（SPC）測量系統分析（MSA）(Sam Dai)課程培訓
SPC
一. 為什么要控制過程
◇ 檢驗的缺陷
◇ 過程控制的優越性
二. 影響過程的因素—如何將過程與統計連接起來
◇ 過程的概念
◇ 數據的分布與過程
◇ 造成分布變化的原因—波動
◇ 普通原因和特殊原因
三. 連續型數據的控制圖
◇ 數據的收集與合理分組
◇ 控制圖原理
◇ 控制界限的計算
◇ 異常的判定準則
◇ 控制圖的兩個階段:分析用與控制用
◇ 均值和極差控制圖
◇ 均值和標準差控制圖
◇ 中位數和極差控制圖
◇ 單值移動極差控制圖
四. 過程能力分析
◇ CP與CPK
◇ PP與PPK
◇ CPK與PPK的區別
五. 離散型數據的控制圖
◇ NP圖
◇ P圖
◇ C圖
◇ U圖
MSA
一. MSA概述
◇ 測量系統分析的目的
二. 連續型數據的MSA
◇ 測量系統的誤差—偏倚的評估
◇ 測量系統的誤差—線性的評估
◇ 測量系統的誤差—穩定性的評估
◇ 測量系統的誤差—重復性的評估
◇ 測量系統的誤差—再現性的評估
◇ 利用MINITAB進行MSA分析
◇ MSA分析的判定準則
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